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2021-02-02
由于在固體材料中熱傳導(dǎo)機(jī)構(gòu)和過程是很復(fù)雜的，對于熱導(dǎo)率的定量分析顯得十分困難，因此下面對影響熱導(dǎo)率的一些主要因素進(jìn)行定性地討論。今天主要看一下溫度對導(dǎo)熱的影響由式(4.1-51)可知，在以聲子導(dǎo)熱為主的溫度區(qū)間，決定熱導(dǎo)率的因素有材料的熱容C、聲子的平均速度v。自由程l。其中v通?？煽醋鞒?shù)，只有在溫度較高時，由于介質(zhì)的結(jié)構(gòu)松弛和蠕變，使介質(zhì)的彈性模量迅速下降，才使v減小，如對一些多晶氧化物測得在溫度高于1000~1300K時就出現(xiàn)這一效應(yīng)。熱容C與溫度的關(guān)系是已經(jīng)知道的，在...2021-02-02
聲子傳導(dǎo)與晶格振動的非諧性有關(guān)，晶體結(jié)構(gòu)愈復(fù)雜，晶格振動的非諧性程度愈大，格波受到的散射愈大，因此聲子平均自由程較小，熱導(dǎo)率較低。例如鎂鋁尖晶石的熱導(dǎo)率比Al2O,和MgO的熱導(dǎo)率都低。莫來石的結(jié)構(gòu)更復(fù)雜，所以熱導(dǎo)率比尖晶石還低得多。對于非等軸晶系的晶體，熱導(dǎo)率也存在著各向異性的性質(zhì)。例如石英、金紅石、石墨等都是在膨脹系數(shù)低的方向熱導(dǎo)率大。溫度升高時不同方向的熱導(dǎo)率差異趨于減小，這是因為當(dāng)溫度升高，晶體的結(jié)構(gòu)總是趨于更高的對稱性。對于同一種物質(zhì)，多晶體的熱導(dǎo)率總是比單晶小，圖...2021-01-29
鐵電存儲器的基本存儲單元一般有兩結(jié)構(gòu)，分別為1T1C（Onetransistoronecapacitance）結(jié)構(gòu)和2T2C（Twotransistortwocapacitance）結(jié)構(gòu)，如圖2-3所示。前者使用一個晶體管及一個鐵電電容組成一個存儲單元，而后者則各為兩個。1T1C結(jié)構(gòu)的優(yōu)點是能夠大的節(jié)省存儲單元所占芯片面積，但是該結(jié)構(gòu)會導(dǎo)致陣列中位線（BitLine）的電壓差變低，讀出時對靈敏放大器的要求會更高；2T2C結(jié)構(gòu)雖然會使用更大的面積，但是由于每個存儲單元都含有兩個...2021-01-28
當(dāng)浸泡在腐蝕介質(zhì)中的金屬有外加電流流過時，同樣會發(fā)生腐蝕金屬電極的極化。在外加陽極電流作用下，金屬的電位由自然腐蝕電位Ecorr向正方向移動，一般情況下使腐蝕速度增大；在外加陰極電流作用下，金屬的電位由自然腐蝕電位Ecorr向方向移動，減小了氧化電流，從而使腐蝕速度下降。極化曲線的實際測量通常是在外加電流作用下進(jìn)行的。極化曲線測量方法一般可分為兩類：1.控制電流法以電流為自變量，遵循規(guī)定的電流變化程序，測定相應(yīng)的電位隨電流的函數(shù)關(guān)系?？刂齐娏鞣ǖ膶嵸|(zhì)是，在每一個測量點及每一個...2021-01-26
早在20世紀(jì)40年代就提出,因為晶體各向異性能和相鄰自旋磁矩的耦合作用,磁性材料中可能存在不同的磁疇結(jié)構(gòu)。當(dāng)晶體各向異性能量占主導(dǎo)地位時,平凡的磁疇壁(圖1(a))會形成全通量閉合結(jié)構(gòu)(圖1(b)),而當(dāng)相鄰磁矩之間的耦合作用超過各向異性能時,可能出現(xiàn)渦旋或反渦旋狀結(jié)構(gòu),如圖1(c)和圖1(d)。Mermin將這類特殊疇結(jié)構(gòu)定義為拓?fù)淙毕?即序參數(shù)停止連續(xù)變化且具有低維奇異性的區(qū)域。一般來講,鐵磁疇壁可歸類為二維平凡的拓?fù)淙毕?而更為復(fù)雜的通量閉合型、渦旋、反渦旋、中心疇、磁...2021-01-26
動態(tài)熱機(jī)械法是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)在振動負(fù)荷下的動態(tài)模量和阻尼與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。DMA可用于測量材料變形時所存儲和消耗的機(jī)械能。例如如果一個材料收到變形并且接著解除變形，那么一部分貯存的變形能要回復(fù)，這是材料的基本特性，即材料產(chǎn)生阻尼振動。對于理想的彈性體，振動的能量是與變形時加入的能量相等的。而大多數(shù)材料并不顯示出理想的彈性特性，所顯示出的是一種黏彈特性。其一部分變形能是以其他形式能量（如熱能）消耗的，這種能量消耗的趨向越大，由變形引起的振動阻尼也越大。在DMA測...2021-01-26
高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的阻抗特性測量需求而設(shè)計的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。測試應(yīng)用范圍高溫四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合...
京公網(wǎng)安備11011302007502號