技術(shù)指標：
 

　　1. 溫度范圍: 室溫~1000℃
 

　　2. 量程范圍: 0～±2000μV
 

　　3. DTA精度: ±0.1μV
 

　　4. 升溫速率: 1～80℃/min
 

　　5. 溫度分辨率: 0.1℃
 

　　6. 溫度度: ±0.1℃
 

　　7. 溫度重復性: ±0.1℃
 

　　8. 溫度控制: 升溫：程序控制        可根據(jù)需要進行參數(shù)的調(diào)整
 

　　降溫：風冷程序控制   可選配半導體冷卻系統(tǒng)、液氮冷卻系統(tǒng)等
 

　　恒溫：程序控制        恒溫時間設(shè)定
 

　　9. 爐體結(jié)構(gòu): 爐體采用上開蓋式結(jié)構(gòu)，代替了傳統(tǒng)的升降爐體，精度高，易于操作
 

　　10. 氣氛控制: (選配)氣體流量計，氣氛轉(zhuǎn)換裝置
 

　　11. 數(shù)據(jù)接口: RS-232串口通訊 配套數(shù)據(jù)線和操作軟件
 

　　12. 主機顯示: 漢字大屏液晶顯示藍底白字
 

　　13. 參數(shù)標準: 配有標準物,用戶可自行對溫度進行校正
 

　　14. 基線調(diào)整: 用戶可通過基線的斜率和截距來調(diào)整基線
 

　　15. 工作電源: AC 220V  50Hz

　　華測差熱分析(DTA)是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)和參比的溫度差和溫度關(guān)系的一種技術(shù)。當試樣發(fā)生任何物理或化學變化時，所釋放或吸收的熱量使試樣溫度高于或低于參比物的溫度，從而相應地在差熱區(qū)線上可得到放熱或吸熱峰。差熱曲線(DTA)是由差熱分析得到的記錄曲線。曲線的縱坐標為試樣與參比物的溫度差(△T)，向上表示放熱反應，向下表示吸熱反應。差熱分析也可以測定試樣的熱容變化，它在差上發(fā)映出基線的偏離。
 

　　華測其它相關(guān)產(chǎn)品：

       可按用戶要求訂制非標產(chǎn)品
 

　　華測儀器--致力于材料電學測試技術(shù)